Unidad de Microscopia Electrónica
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Microscopio electrónico de barrido (SEM-EDS)
Instrumentación
- JEOL modelo JSM 5410.
- EDS Oxford ISIS-Link.
Aplicaciones
El microscopio electrónico de barrido con detector de energía dispersiva (SEM-EDS) permite obtener imágenes microscópicas de minerales, polen, y tejido vegetal y animal. A través del detector EDS además se puede realizar microanálisis (en un punto de 2 µm de tamaño) de elementos mayoritarios. Además de imágenes de electrones secundarios (SEI) se puede obtener imágenes de electrones retrodispersados (BSEI) los cuales informan sobre las variaciones composicionales internas de la muestra.
Microsonda de electrones (EPMA)
Instrumentación
- JEOL modelo JXA-8200 SuperProbe.
Configuración técnica
- Se encuentra equipado con 4 espectrómetros WDS y uno EDS (Si(Li)).
- Los espectrómetros WDS: 2 son normales de 4 cristales y detector de flujo, y 2 de alta intensidad con 2 cristales y detector sellado de Xe).
- Sistema de vacío con bomba turbomolecular y bomba iónica en el cañon (posibilidad de operar con W o LaB6).
- Detectores de electrones secundarios y retrodispersados, detector de catodoluminiscencia.
- Capacidad de análisis desde el B al U, imágenes compo, topo, catodo y mapas de RX.
Aplicaciones
- En el campo de ciencias de los materiales.
- En geología, minería, metalografía,...
- Control de procesos industriales - Control de calidad.
- En el campo de los semiconductores.
- Industria metalúrgica.